東陽テクニカ、サブミクロン薄膜・極表面の硬度・ヤング率測定の無料技術セミナーを開催

東陽テクニカ「ナノインデンター・システム」 東陽テクニカ( http://www.toyo.co.jp )は7月16日、東京・八重洲の本社セミナールームで、サブミクロン薄膜・極表面の硬度・ヤング率測定「ナノインデンター技術セミナー」を開催する。

 ナノインデンター・システムは、特許技術の CSM(連続剛性測定法)により、基板の様子を確認しながら硬度・ヤング率の評価を行うことができる薄膜機械的特性測定装置。CSMによる動的な材料特性評価ができる唯一の装置で、試験位置と試験方法を指定するだけで、高精度なナノ押し込み試験が可能になる。独自のソフトウェアTestWorks4および解析ソフトウェアAnalystはシステムに標準で付属しており、データの収録と解析を容易に行うことができる。

 セミナーは、「ナノインデンテーションの基本原理」、「ISO14577とナノインデンテーション」、「薄膜/極表面の硬度・ヤング率評価方法」、「各種応用測定例(スクラッチ、粘弾性など)」について平易に解説する。受講料は無料。申し込み、問い合わせは こちらから。